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第1章　绪论1

第2章　建模7

2.1　基本概念7

2.2　逻辑级的功能建模8

2.2.1　真值表和原始立方8

2.2.2　状态表和流程表9

2.2.3　二叉判决图12

2.2.4　作为功能模型的程序13

2.3　寄存器级的功能建模14

2.3.1　基本的寄存器传输语言结构14

2.3.2　寄存器传输语言中的时序模型16

2.3.3　内部寄存器传输语言模型17

2.4　结构模型17

2.4.1　外部表示17

2.4.2　结构属性19

2.4.3　内部表示21

2.4.4　线逻辑和双向性22

2.5　建模的层次23

参考文献25

习题26

第3章　逻辑模拟27

3.1　应用27

3.2　基于模拟设计验证中的问题28

3.3　模拟的类型29

3.4　未知的逻辑值30

3.5　编译后模拟32

3.6　事件驱动模拟34

3.7　时延模型35

3.7.1　门级时延模型35

3.7.2　功能元件的时延模型36

3.7.4　时延模型的其他方面37

3.7.3　RTL中时延模型37

3.8　元件求值38

3.9　冒险检测40

3.10　门级事件驱动模拟43

3.10.1　跳变独立的额定传输时延43

3.10.2　其他逻辑值47

3.10.3　其他时延模型49

3.10.4　振荡控制52

3.11　模拟引擎53

参考文献55

习题58

第4章　故障模型61

4.1　逻辑故障模型61

4.2　故障检测和冗余63

4.2.1　组合电路63

4.2.2　时序电路67

4.3　故障等价和故障定位69

4.3.1　组合电路69

4.3.2　时序电路71

4.4　故障支配71

4.4.1　组合电路71

4.4.2　时序电路72

4.5　单固定型故障模型72

4.6　多固定型故障模型77

4.7　固定的RTL变量80

4.8　故障变量80

参考文献81

习题83

第5章　故障模拟86

5.1　应用86

5.2.2　公共概念和术语88

5.2.1　串行故障模拟88

5.2　通用故障模拟技术88

5.2.3　并行故障模拟89

5.2.4　演绎故障模拟91

5.2.5　并发故障模拟97

5.2.6　比较102

5.3　组合电路的故障模拟103

5.3.1　并行向量的单故障传播103

5.3.2　临界路径跟踪104

5.4　故障采样111

5.5　统计故障分析113

5.6　本章小结115

参考文献116

习题120

第6章　单固定型故障测试122

6.1　基本问题122

6.2.1　面向故障的自动测试生成123

6.2　组合电路中的单固定型故障的自动测试生成123

6.2.2　故障独立ATG147

6.2.3　随机测试生成152

6.2.4　组合的确定性／随机TG158

6.2.5　ATG系统162

6.2.6　其他TG方法165

6.3　时序电路SSF的ATG167

6.3.1　使用迭代阵列模型的TG167

6.3.2　基于模拟的TG177

6.3.3　使用RTL模型的TG177

6.3.4　随机测试生成182

6.4　本章小结182

参考文献184

习题190

7.1　桥接故障模型195

第7章　桥接故障测试195

7.2　无反馈桥接故障的检测197

7.3　反馈桥接故障的检测198

7.4　桥接故障模拟201

7.5　桥接故障的测试生成203

7.6　本章小结204

参考文献204

习题204

第8章　功能测试206

8.1　基本问题206

8.2　不使用故障模型的功能测试206

8.2.1　启发式方法206

8.2.2　使用二叉判决图的功能测试209

8.3　穷举和伪穷举测试211

8.3.1　组合电路211

8.3.2　时序电路213

8.3.3　迭代逻辑阵列214

8.4　针对具体故障模型的功能测试218

8.4.1　功能故障模型218

8.4.2　微处理器故障模型218

8.4.3　测试生成过程222

8.4.4　实例研究226

8.5　本章小结226

参考文献227

习题229

第9章　可测试性设计231

9.1　可测试性231

9.1.1　折衷232

9.1.2　可控制性和可观测性233

9.2　特别的可测试性设计技术234

9.2.1　测试点234

9.2.2　初始化236

9.2.3　单稳多频振荡器238

9.2.4　振荡器和时钟239

9.2.5　分割计数器和移位寄存器239

9.2.6　分割大的组合电路240

9.2.7　逻辑冗余241

9.2.8　全局反馈通路241

9.3　通过扫描寄存器提高可控制性和可观测性242

9.4　通用的基于扫描的设计247

9.4.1　全串行集成扫描247

9.4.2　隔离的串行扫描248

9.4.3　非串行扫描248

9.5　扫描设计的存储单元249

9.6　典型的扫描设计253

9.7　扫描设计成本258

9.8.2　系统级扫描通路259

9.8　板级和系统级DFT方法259

9.8.1　系统级总线259

9.9　高级扫描概念260

9.9.1　多测试阶段260

9.9.2　使用I通路的部分扫描261

9.9.3　结构化部分扫描设计BALLAST264

9.10　边界扫描标准268

9.10.1　背景268

9.10.2　边界扫描单元270

9.10.3　板级测试模式和芯片测试模式271

9.10.4　测试总线274

9.10.5　测试总线电路274

参考文献278

习题282

10.1　压缩技术的基本方面287

第10章　测试压缩技术287

10.2　对1计数压缩288

10.3　跳变计数压缩290

10.4　奇偶校验压缩292

10.5　症候测试293

10.6　特征分析294

10.6.1　线性反馈移位寄存器的理论和操作294

10.6.2　用LFSR实现的特征分析器301

10.6.3　多输入特征寄存器304

10.7　本章小结306

参考文献306

习题310

第11章　内建自测试313

11.1　BIST概念介绍313

11.1.2　测试分级314

11.1.1　硬核314

11.2　BIST测试向量生成315

11.2.1　穷举测试315

11.2.2　伪随机测试315

11.2.3　伪穷举测试316

11.3　一般离线BIST体系结构329

11.4　一些特定的BIST体系结构331

11.4.1 中央独立式板级BIST体系结构331

11.4.2　内建评估和自测试332

11.4.3　随机测试插槽332

11.4.4　LSSD片上自测试333

11.4.5　使用MISR和并行SRSG的自测试335

11.4.6　并发BIST体系结构336

11.4.7　带有边界扫描的中央式、内嵌的BIST体系结构337

11.4.8　随机测试数据337

11.4.9　同时自测试338

11.4.11　循环自测试通路340

11.4.10　循环分析测试系统340

11.4.12　内建逻辑模块观测344

11.4.13　小结351

11.5　高级BIST概念352

11.5.1　测试调度353

11.5.2　对BILBO寄存器的控制354

11.5.3　部分－侵入BIST356

11.6　板级自测试设计357

参考文献358

习题365

第12章　逻辑级诊断368

12.1　基本概念368

12.2　故障字典369

12.3　引导探针测试373

12.4　精简UUT的诊断方法377

12.5　组合电路的故障诊断378

12.6　诊断专家系统379

12.7　效果－原因分析381

12.8　基于结构和行为的诊断推理383

参考文献385

习题387

第13章　自校验设计388

13.1　基本理论388

13.2　检错码和纠错码的应用389

13.3　多个位错误393

13.4　校验电路和自校验393

13.5　自校验的校验器394

13.6　奇偶校验函数395

13.7　完全自校验m/n码校验器396

13.8　完全自校验的等价校验器398

13.9　自校验的伯格码校验器398

13.10　自校验组合电路的通用理论399

13.11　自校验的时序电路400

参考文献401

习题402

第14章　PLA测试403

14.1　引言403

14.2　PLA测试问题404

14.2.1　故障模型405

14.2.2　传统测试生成方法中的问题406

14.3　PLA的测试生成算法406

14.3.1　确定性测试生成407

14.3.2　半随机测试生成407

14.4　可测试PLA设计408

14.4.1　具有特殊编码的并发可测试PLA408

14.4.2　奇偶可测试PLA411

14.4.3　特征可测试PLA414

14.4.4　PLA的划分和测试417

14.4.5　完全可测试PLA设计420

14.5　PLA测试方法的评价421

14.5.1　TDM度量准则421

14.5.2　PLA测试技术的评价423

参考文献428

习题431

第15章　系统级诊断433

15.1　系统级诊断的简单模型433

15.2　PMC模型的一般化437

15.2.1　系统诊断图的一般化437

15.2.2　可能测试结果的一般化438

15.2.3　诊断度量的一般化438

参考文献440

习题441

索引443