图书介绍
CMOS数字集成电路 分析与设计 第4版 英文版PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- （美）康松默等著 著
- 出版社： 北京：电子工业出版社
- ISBN：9787121248047
- 出版时间：2015
- 标注页数：716页
- 文件大小：115MB
- 文件页数：742页
- 主题词：CMOS电路－电路分析－高等学校－教材－英文；CMOS电路－电路设计－高等学校－教材－英文
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图书目录
Chapter 1 概论1
1.1 发展历史1
1.2 本书的目标和结构5
1.3 电路设计举例8
1.4 VLSI设计方法综述18
1.5 VLSI设计流程20
1.6 设计分层23
1.7 规范化、模块化和本地化的概念26
1.8 VLSI的设计风格28
1.9 设计质量39
1.10 封装技术41
1.11 计算机辅助设计技术44
习题46
Chapter 2 MOS场效应管的制造49
2.1 概述49
2.2 制造工艺的基本步骤50
2.3 CMOS n阱工艺60
2.4 CMOS技术的发展67
2.5 版图设计规则74
2.6 全定制掩膜版图设计78
习题82
Chapter 3 MOS晶体管92
3.1 金属-氧化物-半导体（MOS）结构92
3.2 外部偏置下的MOS系统96
3.3 MOS场效应管（MOSFET）的结构和作用99
3.4 MOSFET的电流-电压特性109
3.5 MOSFET的收缩和小尺寸效应120
3.6 MOSFET电容151
习题162
Chapter 4 用SPICE进行MOS管建模167
4.1 概述167
4.2 基本概念168
4.3 一级模型方程170
4.4 二级模型方程174
4.5 三级模型方程178
4.6 先进的MOSFET模型179
4.7 电容模型180
4.8 SPICE MOSFET模型的比较184
附录 典型SPICE模型参数186
习题192
Chapter 5 MOS反相器的静态特性194
5.1 概述194
5.2 电阻负载型反相器202
5.3 MOSFET负载反相器211
5.4 CMOS反相器221
附录 小几何尺寸器件中CMOS反相器尺寸的发展趋势239
习题241
Chapter 6 MOS反相器的开关特性和体效应245
6.1 概述245
6.2 延迟时间的定义247
6.3 延迟时间的计算249
6.4 延迟限制下的反相器设计257
6.5 互连线电容的估算267
6.6 互连线延迟的计算280
6.7 CMOS反相器的开关功耗288
附录 超级缓冲器的设计297
习题300
Chapter 7 组合MOS逻辑电路305
7.1 概述305
7.2 带伪nMOS（PMOS）负载的MOS逻辑电路306
7.3 CMOS逻辑电路319
7.4 复杂逻辑电路326
7.5 CMOS传输门339
习题349
Chapter 8 时序MOS逻辑电路356
8.1 概述356
8.2 双稳态元件的特性357
8.3 SR锁存电路363
8.4 钟控锁存器和触发器电路368
8.5 时钟存储器件的相关时序特性376
8.6 CMOS的D锁存器和边沿触发器378
8.7 以时钟存储器件为基础的脉冲锁存器384
8.8 基于灵敏放大器的触发器电路386
8.9 时钟存储器件中的逻辑嵌入388
8.10 时钟系统的能耗及其节能措施389
附录391
习题394
Chapter 9 动态逻辑电路398
9.1 概述398
9.2 传输晶体管电路的基本原理400
9.3 电压自举技术412
9.4 同步动态电路技术416
9.5 动态CMOS电路技术421
9.6 高性能动态逻辑CMOS电路425
习题442
Chapter 10 半导体存储器447
10.1 概述447
10.2 动态随机存储器（DRAM）452
10.3 静态随机存储器（SRAM）481
10.4 非易失存储器497
10.5 闪存510
10.6 铁电随机存储器（FRAM）518
习题521
Chapter 11 低功耗CMOS逻辑电路527
11.1 概述527
11.2 功耗综述528
11.3 电压按比例降低的低功率设计541
11.4 开关激活率的估算和优化552
11.5 减小开关电容558
11.6 绝热逻辑电路560
习题568
Chapter 12 算术组合模块569
12.1 概述569
12.2 加法器569
12.3 乘法器580
12.4 移位器586
习题588
Chapter 13 时钟电路与输入输出电路592
13.1 概述592
13.2 静电放电（ESD）保护592
13.3 输入电路596
13.4 输出电路和L（di/dt）噪声600
13.5 片内时钟生成和分配605
13.6 闩锁现象及其预防措施620
附录 芯片网络：下一代片上系统的新范例627
习题631
Chapter 14 产品化设计633
14.1 概述633
14.2 工艺变化634
14.3 基本概念和定义636
14.4 实验设计与性能建模642
14.5 参数成品率的估计650
14.6 参数成品率的最大值655
14.7 最坏情况分析657
14.8 性能参数变化的最小化663
习题666
Chapter 15 可测试性设计670
15.1 概述670
15.2 故障类型和模型670
15.3 可控性和可观察性674
15.4 专用可测试性设计技术675
15.5 基于扫描的技术678
15.6 内建自测（BIST）技术680
15.7 电流监控IDDQ检测683
习题684
参考文献685
索引691