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目录1

第一部分 使用中的转换器（使用或不使用微处理器）1

第1章 简介：资料系统及其元件3

第2章 资料收集15

2.1过去与现在16

2.2环境与复杂性17

2.3关键因素18

2.4单通道转换副系统20

2.5多通道转换31

2.6信号调节39

第3章 资料分配47

3.1影响分配系统设计之因素48

3.2数位信号源49

3.3暂存器50

3.4多级暂存器52

3.5更多的通道54

3.6获取对分配59

3.7滤波与除波闪59

3.8使用伺服线路减低刻度的误差62

3.9隔离64

第4章 系统整合与远端资料获取66

4.1转换器对类比与数位世界的介面副系统67

4.1-1AD574AICA/D转换器69

4.2-1AD364资料获取系统72

4.1-3AD75818位元8适遂记忆的资料获取系统73

4.4-4RIE-1260与RTI-1262微电脑类比输入与输出74

4.1-5AD2051具有微处理器的热耦合温度计76

4.1-6μMAC-5000可程式规划单电路板测量与控制系统77

4.7-7MACSYM350具有电脑的测量与控制系统位元80

4.2使用微处理器于转换并列连接介面83

4.2-1微处理器与记忆体的I/O接介84

4.2-212位元A/D转换器与微处理器之介面86

4.2-3资料获取模组与8080微处理器之介面89

4.2-4ICDAC与汇流排之介面90

4.2-5具有记忆体的IC资料获取系统与汇流排之接介91

4.2-6类比I/O电路板与微电脑汇流之介面93

4.3串列式介面96

4.3-1美国国家资讯交换标准码99

4.3-2RS-232C及其他的传输标准103

4.3-3通信协定104

4.4结论106

第5章 使用数位元件于类比功能107

5.1电源110

5.1-1数位控制的电压源110

5.1-2手动的数位输入111

5.1-3数位控制的电流源114

5.2标度因素118

5.2-1数位控制的标度因素118

5.3函数关系122

5.4三角函数应用124

5.5波形产生126

5.6时间反应128

5.7数位伺服电路130

5.8结论133

5.8-1软体与硬体133

第6章 应用转换器于仪器与系统135

6.1自动测试136

6.1-1自动测试之应用137

6.1-2测试系统的要素137

6.2数位信号处理142

6.2-1移位暂存器延遲线143

6.2-2结论149

6.3阴极射线管显示器150

6.3-1基本系统152

6.3-2使用D/A转换器于显示器中153

6.4商业、工业及其它应用160

第二部分 A/D和D/A转换器167

第7章 认识转换器169

7.1二进制码与转换关系169

7.1-1类比数量169

7.1-2数位数量170

7.1-3二进制码——整数与分数171

7.1-4基本的转换关系174

7.2其它的数码178

7.2-1二进码十进数（BCD）178

7.2-2格雷码179

7.2-3互补码182

7.3类比极性与标度183

7.3-1双极码184

7.3-2数码变换188

7.3-3其它的双极码189

7.3-4任意的偏压与标度190

7.3-5DAC当乘法器，ADC当除法器190

7.4转换器与电气介面192

7.4-1接地规则195

7.4-2电源供应器195

7.4-3数位逻辑准位195

7.4-4控制逻辑196

7.4-5类比信号197

7.5D/A转换器电路200

7.5-1开关解码201

7.5-2电阻梯形纲路203

7.5-3开关205

7.5-4参考电源207

7.5-5双极性转换208

7.6A/D转换器电路213

7.6-1渐近式213

7.6-2积分式215

7.6-3计数器和伺服式217

7.6-4并列式转换器219

7.6-5关心逻辑之共用220

7.7结论221

第8章 转换器微线路222

8.1积体电路转换器222

8.1-1制造223

8.2双极D/A转换器225

8.2-1构成完整8位元DAC之要素234

8.3CMOSD/A转换器237

8.3-1CMOSD/A转换237

8.3-2等效电路240

8.3-3数位缓冲242

8.3-4类比考虑事项244

8.3-5多转换器248

8.3-6部份解码DAC构成高解析度254

8.4BiMOSDAC技术258

8.5混合式DAC261

8.6积体电路类比对数位转换器263

8.6-1使用I2L双极技术264

8.6-2CMOSADC272

8.6-3混合式A/D转换器278

第9章 IC转换器设计便览280

9.1D/A转换器技术回顾280

9.2将技术应用到最终产品上296

9.3雷射晶元整修297

第10章 转换器测试299

10.1D/A转换器之转换函数300

10.2DAC规格302

10.2-1截止点误差302

10.2-2线性305

10.2-3重叠305

10.3D/A转换器测试309

10.3-1统计误差309

10.3-2稳定时间测量314

10.4A/D转换器测试319

10.4-1ADC转换函数319

10.4-2ADC增益和补偿误差320

10.4-3ADC线性误差325

10.4-4ADC测试技巧326

10.4-5线上测试之硬体架构329

10.4-6自动测试方法332

10.5实际测试之注意事项338

10.5-1变迁不定性338

10.5-2硬体的限制339

10.5-3动态的测试342

第11章 转换器规格345

11.2订定目标—应用检查表346

11.1两项基本的因素346

11.3规格定义349

11.4系统元件之选择步骤367

11.5选择及验证之范例368

11.5-1首次概算368

11.5-2误差分析368

11.6结论372

第12章 正确的使用转换器373

12.1正确的选择系统374

12.1-1资料获取系统374

12.1-3放宽规格的研究375

12.1-2三种转换器规格375

12.1-4对数压缩376

12.1-5滤波377

12.1-6取样保持器377

12.1-7驱动A/D转换器379

12.1-8误差发生原因381

12.2设置与接地382

12.2-1接地383

12.2-2减低共模误差384

12.3如何调整转换器的零点及增益386

12.3-2调整DAC387

12.3-1调整步骤387

12.3-3调整ADC388

12.4其它改善效率的方法389

12.4-1保存DAC类比输出精确度389

12.4-2更进一步探讨旁路与接地问题395

第三部分 特殊用途的类比／数位转换器403

第13章 视频转换器405

13.1应用概念405

13.1-1显示系统406

13.1-2数位信号处理408

13.1-3雷达411

13.1-4暂态侦测413

13.1-5通信414

13.2视频转换器416

13.2-1D/A转换器416

13.2-2A/D转换器423

13.3实用的设计技巧430

13.3-1电路板接地431

13.3-2电路板安排431

13.3-3电源供应432

13.4-1ADC测试433

13.4测试视频转换器433

13.3-4系统注意事项433

13.4-2DAC测试439

第14章 用于分解器之转换器及相关元件443

14.1位置测量透视444

14.1-1光学式编码器446

14.1-2电位器、接触式编码器、旋转可变微分变压器、线性可变微分变压器、玻璃标度转换器448

14.1-3分解器和同步器449

14.1-4感应式传感器451

14.1-5各种元件之比较453

14.2-1追踪转换器454

14.2分解器对数位转换器454

14.2-2相位类比的方法458

14.2-3渐近式方法459

14.2-4转速器输出461

14.3数位对分解器转换器461

14.4分解器、同步器、感应式传感器与转换器设计464

14.4-1分解器和同步器设计466

14.4-2旋转感应式传感器设计468

14.4-3线性感应式传感器设计469

14.4-4数位对分解／同步器转换器470

14.5-1机器工具应用471

14.5分解器、同步器、感应式传感器和转换器的应用471

14.5-2火砲控制473

14.5-3平面位置指示474

第15章 电压对频率转换器476

15.1简介476

15.2定义和规格478

15.3VFC概况482

15.3-1复振动器型482

15.3-2电荷平衡型VFC484

15.3-3组合的模组元件492

15.4-1VFC电压表493

15.4应用493

15.4-2信号隔离496

15.4-3锁相回路频率对电压转换器500

15.4-4多功能锁相回路504

15.4-5同步电压对频率转换器509

15.5实际的问题512

15.5-1去耦合与接地512

15.5-2元件之选择513

第16章 非线性转换器515

16.2LOGDAC剖析：规格的意义516

16.1使用非线性转换器的目的516

16.2-1规格所代表的意义523

16.3LOGDAC应用527

16.3-1基本的衰减器或数位电位计527

16.3-2指数放大器或具有回授之电位计528

16.3-3对数A/D转换器531

16.3-4扩大范围531

第17章 高解析度资料转换535

17.1应用536

17.2-1测试DAC的积分和微分非线性538

17.2高解析度D/A转换器538

17.2-2维持高解析度和高精确度539

17.2-3DAC之动态应用：重要规格546

17.2-4DAC谐振失真之测试547

17.2-5改善高解析度D/A转换器效能549

17.2-6双极输出DAC之效能550

17.2-7扩大的解析度551

17.3高解析度A/D转换器551

17.3-1浮点转换器551

17.3-2扩大解析度的ADC553

17.3-3设计高解析度A/D转换器之难题554

17.3-4少量杂讯理论555

17.3-5高解析度ADC的电路板配置558

17.4高解析度取样保持器561

第四部分 相关的电路和元件563

第18章 取样保持电路565

18.1取样保持动作566

18.2规格567

18.2-1追踪模式：补偿、非线性、增益、567

18.2-2追踪到保持变化568

稳定时间、频宽568

18.2-3保持模式570

18.2-4保持到取样的转变571

18.3取样保持电路572

18.3-1开回路电路572

18.3-2闭回路电路573

18.4应用576

18.5选择和使用取样保持器579

第1章 类比开关和多工580

19.1一般的IC开关制作580

19.1-1接合场效电晶体581

19.1-3互补式金氧半导体582

19.1-2P型金氧半导体582

19.1-4开关型式584

19.2开关的特性和规格586

19.2-1随信号电压改变的RoN587

19.2-2开关之漏电流590

19.2-3电荷射入591

19.2-4回泵594

19.2-8插入损失596

19.2-9串音596

19.2-6稳定时间596

19.2-7断开隔绝性596

19.2-5切换速度596

19.3多工与多重开关597

19.3-1低准位信号之多工处理598

19.3-2多階多工处理599

19.3-3多开关结构601

19.4应用602

19.4-1取样和保持603

19.4-2DAC之除波闪604

19.4-4其它的重要应用605

19.4-3DAC输出解多工处理605

第20章 电压参考电源608

20.1什么地方需使用参考电压源608

20.2参考电源的种类609

20.2-1会纳二极体参考电源609

20.2-2温度稳定型参考电源618

20.2-3带隙参考电源619

20.3规格代表之意义625

20.3-2因温度而变化的输出电压627

20.3-1原始精确度627

20.3-3线性调节630

20.3-4负载调节631

20.3-5长时间的稳定性631

第21章 数位信号处理632

21.1基本的信号处理633

21.1-1频谱分析635

21.1-2数位滤波639

21.1-3其它的数位信号处理演算法647

21.2数位信号处理硬体647

21.2-2微编码系统648

21.2-1单晶片处理器648

21.2-3定点运算功能652

21.2-4浮点运算功能656

21.2-5典型的系统656

21.3DSP应用660

21.3-1数据机660

21.3-2录音室录音662

21.3-3超音波扫描664

21.3-4震动分析仪665

21.4数位信号处理专有名词667

第五部分 协助资料671

第22章 问题解决指引673

22.1常被问到的问题674

22.2常发生的问题677

22.2-1显著的不良功能677

22.2-2不良功能678

22.3实用的忠告680

22.3-1预防680

22.3-2测量元件681

22.3-3测量和检修681

22.4若所有测试都失败时 ！682

参考书目683