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第一章 基本原理1

1.1 原子结构和荧光产额1

1.2 γ射线和物质的相互作用6

1.3 γ射线的吸收11

1.4 X射线荧光的激发14

1.5 散射强度和散射影响20

1.6 X射线荧光分析的能量色散法21

第二章 放射源24

2.1 概述24

2.2 γ射线源和X射线源25

2.3 β-X射线源和轫致辐射源33

2.4 源靶装置35

2.5 α、β放射源和X光管40

第三章 X射线探测器46

3.1 正比计数器46

3.2 闪烁计数器50

3.3 锂漂移型半导体探测器53

3.4 探测器性能比较58

3.5 其它探测器63

第四章 能量分析用的电子线路66

4.1 能量色散型X射线荧光分析仪的线路要求66

4.2 放大器75

4.3 脉冲幅度分析器83

4.4 计数电路89

第五章 能量色散装置和样品制备98

5.1 能量色散装置的设计要求98

5.2 散射角的选择99

5.3 放射源-样品-探测器的几何布置102

5.4 能量色散装置的材料选择106

5.5 样品的制备107

第六章 能量选择滤光片和辐射体111

6.1 原理和分类111

6.2 金属片型平衡滤光片的设计116

6.3 塑料氧化物型平衡滤光片的设计120

6.4 滤光片的制造方法123

6.5 平衡滤光片的指标和测试126

6.6 X射线辐射体129

第七章 基体效应132

7.1 吸收效应和增强效应132

7.2 基体效应修正的实验方法134

7.3 重叠谱线的数学分解147

7.4 样品厚度效应149

7.5 表面效应和化合介效应156

第八章 颗粒样品的非均匀效应158

8.1 光子辐射对非均匀样品的通过率158

8.2 含有两种等颗粒度颗粒的样品的荧光强度非均匀效应162

8.3 贯穿辐射和散射辐射的颗粒度效应169

8.4 含有多种等颗粒度颗粒的样品的非均匀效应173

8.5 非等颗粒度样品的颗粒度效应176

8.6 连续颗粒度分布样品的荧光辐射强度的颗粒度效应180

第九章 测量误差和仪器工作性能的统计检验182

9.1 定量分析的测量误差182

9.2 计数的概率分布185

9.3 偶然误差和系统误差190

9.4 计数统计误差和仪器误差194

9.5 仪器性能重复性的统计检验197

9.6 仪器工作性能的统计控制202

10.1 标准样品和定标曲线207

第十章 定量分析207

10.2 一元线性回归分析210

10.3 相关系数和可疑观测值的舍弃213

10.4 精确度和准确度218

10.5 灵敏度和探测限223

10.6 提高精确度的一些测量方法229

第十一章 定量分析的数学方法235

11.1 分析多元样品的基本方程235

11.2 克里斯-伯克斯经验系数法238

11.3 克莱斯-昆廷经验系数法242

11.4 拉斯伯里-海因里奇经验系数法244

11.5 卢卡斯-图思经验系数法246

11.6 各种经验系数法的比较250

11.7 克里斯-伯克斯基本参数法254

第十二章 应用(Ⅰ)259

12.1 在地质和矿山上的应用259

12.2 流程分析271

12.3 冶金分析280

12.4 覆盖层厚度测量285

第十三章 应用(Ⅱ)293

13.1 在医学上的应用293

13.2 环境公害样品的分析298

13.3 其它分析应用308

13.4 颗粒度测量308

结束语312

附录一 原子能级图和特征X射线314

附录二 元素的K吸收限和主要的K系特征X射线315

附录三 元素的L吸收限和主要的L系特征X射线317

附录四 光子的质量吸收系数319

附录五 低能范围的光子质量吸收系数326

附录六 元素对特征X射线的质量吸收系数328

附录七 K吸收限和L吸收限的突变化377

附录八 硫、铁、铜、钼、锡和铅的X射线作用截面378

附录九 空气、P10气和聚酯膜、聚乙烯醇缩甲醛膜对光子的质量吸收系数385

附录十 φ200铁框分样筛的规格386

附录十一 ex及e-x值表386