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X射线荧光分析译文集 数学校正法及新技术的应用
  • 地质部书刊编辑室编辑 著
  • 出版社: 北京:地质出版社
  • ISBN:15038·新508
  • 出版时间:1981
  • 标注页数:231页
  • 文件大小:12MB
  • 文件页数:236页
  • 主题词:

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图书目录

X射线光谱测定中数学校正法的述评1

实用X射线光谱学中的经验基体校正9

基本参数法荧光X射线光谱定量分析20

二次源、能量色散X射线光谱仪及其在定量分析化学中的应用37

混合、稀释、加入法的评述及共理论上可能的扩展Ⅰ44

岩石X射线荧光分析中的增强效应62

论用伪观X射线强度优化回归方程68

在岩石样品X射线荧光分析中使用“曲线拟合计算机程序”补偿元素间72

效应——地质样品中钒的测定72

地质原料X射线荧光分析的模型、方程和校正因子76

等效波长的概念、定义、特性和应用84

荧光X射线强度式中原级X射线的贡献率及其在定量分析中的应用99

电子计算机在X射线荧光分析中的应用107

使用配置计算机的自动X射线光谱仪定量分析选定的微量和痕量元素111

元素间效应严重存在时用X射线荧光法准确测定主组分123

岩石中痕量元素的X射线光谱分析仪器干扰的校正136

在荧光X射线光谱法中靶元素散射背景强度的校正方法147

对于邻苯二甲酸铷分光晶体变质的一些说明151

Ge(111)分光晶体的特性153

锑化铟X射线单色器156

由AgKa康普顿散射辐射强度的测量来确定X射线质量吸收系数160

岩石样品痕量元素分析中用AgKa康普顿散射辐射校正基体效应166

螯合离子交换树脂和X光荧光174

树脂填充纸——对于取样和标准化的一种万能介质179

X光谱分析现状(述评)186

工业X射线光谱分析的自洽校正方法197

多组份样品中荧光强度与分析元素浓度关系的研究211

用于X射线发射定量分析的一种多用途薄膜方法219

某些标准岩石样品中Rb/Sr,87Sr/86Sr比值的测定和X射线荧光光谱法在Rb-Sr地球化学中的应用225

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