图书介绍
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- 薛增泉,吴全德编著 著
- 出版社: 北京:北京大学出版社
- ISBN:7301020422
- 出版时间:1993
- 标注页数:296页
- 文件大小:8MB
- 文件页数:301页
- 主题词:电子发射 电子能谱仪
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图书目录
第一章 热电子发射1
引言1
1 金属中的电子2
1.1 金属的索末菲自由电子模型2
1.2 金属中自由电子的动量与能量5
1.3 金属中电子态的统计分布函数9
2 表面势垒和逸出功14
2.1 表面势垒15
2.2 逸出功18
3 金属的热电子发射公式20
4 半导体和绝缘体中的电子24
4.1 能带的形成24
4.2 半导体中电子的统计分布26
5 半导体的热电子发射公式36
6 逸出功的测量37
7 热电子发射的初动量与能量39
8 外电场对热发射电子流的影响42
8.1 二极管的伏安特性和极间电位分布42
8.2 阻滞场中的电子流44
8.3 加速场中的阳极电流——肖脱基效应46
8.4 空间电荷限制的阳极电流——二分之三次方定律50
9 实用热电子发射阴极52
9.1 热阴极的基本参量53
9.2 金属阴极54
9.3 原子膜阴极54
9.4 氧化物阴极54
9.5 贮备式阴极55
9.6 硼化物阴极56
9.7 碳化物阴极57
9.8 其它热阴极58
第二章 场致电子发射60
引言60
1 金属的场致电子发射61
1.1 金属的场致电子发射公式62
1.2 温度对场致发射的影响——热场发射71
1.3 场致发射电子的初能量75
2 半导体的场致电子发射79
2.1 外电场与吸附原子对表面势垒的影响79
2.2 半导体的场致发射电流公式81
3 内场致电子发射84
4 场发射显微镜(FEM)与场离子显微镜(FIM)90
4.1 场发射显微镜(FEM)91
4.2 场离子显微镜(FIM)95
4.3 原子探针-场离子显微镜(AP-FIM)99
5 扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)101
5.1 扫描隧道显微镜(STM)102
5.2 原子力显微镜(AFM)106
第三章 光电子发射107
引言107
1 金属的光电子发射108
1.1 光电发射现象108
1.2 金属的光电子发射公式111
1.3 光谱特性曲线118
2 半导体和绝缘体的光电子发射120
2.1 半导体光电发射的三阶模型121
2.2 半导体光电阴极的量子效率121
2.3 光电子的逸出深度124
2.4 半导体的表面态和有效电子亲和势127
3 光电发射电子的角度分布和能量分布129
4.1 实用光电阴极的主要参量132
4 实用光电阴极132
4.2 银氧铯(Ag-O-Cs)光电阴极133
4.3 碱金属锑化物光电阴极138
4.4 负电子亲和势(NEA)光电阴极140
4.5 紫外光电阴极144
第四章 光电子能谱147
引言147
1 光电子能谱的基本原理149
2 谱峰与样品结构的关系153
3 光电子谱的光源、样品及信息检测169
4 X射线光电子能谱(XPS)180
5 紫外光电子能谱(UPS)185
6.1 光电子发射的角度效应191
6 角分辨光电子谱(ARPS)191
6.2 测量能带结构的原理193
6.3 能带结构的测量196
6.4 波函数的对称性和分子取向199
7 自旋极化的光电子发射202
7.1 光电子的自旋极化率(ESP)203
7.2 铁磁性样品206
7.3 非铁磁性样品207
第五章 次级电子发射210
引言210
1 金属的次级电子发射211
1.1 金属次级发射系数δ的测量211
1.2 次级电子的能量分布215
1.3 次级发射电子的角度分布218
1.4 各种因素对次级发射系数δ的影响220
1.5 金属的次级电子发射理论222
2 半导体和绝缘体的次级电子发射230
3 次级电子发射的应用238
第六章 次级电子能谱244
引言244
1 电子衍射245
1.1 高能电子衍射(HEED)248
1.2 反射高能电子衍射(RHEED)253
1.3 低能电子衍射(LEED)254
2 电子能量损失谱(EELS)266
1.1 芯能级电子能量损失谱266
1.2 等离子激元和价电子能量损失谱267
1.3 声子能量损失谱270
1.4 阈能谱274
3 俄歇电子谱(AES)277
3.1 俄歇过程278
3.2 俄歇电子的能量279
3.3 俄歇电子谱给出化学位移的信息279
3.4 俄歇电子产额280
3.5 俄歇电子谱的定量分析282
4 特征X射线谱286
4.1 特征X射线的能量286
4.2 测量X射线的方法286
4.3 X射线谱定量分析方法287
5 电子显微镜288
5.1 透射电子显微镜(TEM)289
5.2 反射电子显微镜(REM)292
5.3 扫描电子显微镜(SEM)292
参考文献295